Deutschland – Maschinen und Geräte zum Prüfen und Messen – Semi-automatic prober for characterization of 200 mm wafers
Die IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik beschafft ein halbautomatisches Wafer-Prober-System zur elektrischen und temperaturabhängigen Charakterisierung von 200-mm-Wafern. — Auftraggeber: IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik · Frist: 2026-10-13
Die IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik schreibt die Lieferung, Installation und Inbetriebnahme eines halbautomatischen Wafer-Prober-Systems für die elektrische und temperaturabhängige Charakterisierung von 200-mm-Wafern aus. Das System muss DC- und gepulste I-V-Messungen sowie Niederfrequenz-Impedanzmessungen bis 10 MHz unterstützen und in das bestehende Keithley 4200A-SCS-System integriert werden. Die Abgabefrist endet am 13. Oktober 2026. Der Ausführungsort ist Frankfurt (Oder).
Eckdaten
- Vergabestelle
- IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik
- Leistungsort
- 15236 Frankfurt (Oder), DEU
- Angebotsfrist
- 2026-10-13
- Veröffentlicht
- 2026-09-14
- CPV-Codes
- 38540000
Ausschreibungen nach Region & Branche: Mecklenburg-Vorpommern · Rostock · Schwerin · Bau in MV · Handwerk in MV