Deutschland – Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser) – Dual Beam Focused Ion Beam System (FIB) und Transmissionselektronenmikroskop (TEM)
Das Institut für Oberflächen- und Schichttechnik GmbH beschafft ein DualBeam Focused Ion Beam System (FIB) und ein Transmissionselektronenmikroskop (TEM) für hochauflösende Materialanalytik. — Auftraggeber: Institut für Oberflächen- und Schichttechnik GmbH · Frist: 2026-08-17
Das Institut für Oberflächen- und Schichttechnik GmbH schreibt die Lieferung, Installation und Inbetriebnahme eines DualBeam Focused Ion Beam Systems (FIB) sowie eines aberrationskorrigierten 200 kV Transmissionselektronenmikroskops (TEM) aus. Die Geräte dienen der präzisen Probenpräparation und hochauflösenden strukturellen, chemischen und elektronischen Analyse von Materialien. Angebote müssen bis zum 17. August 2026 eingereicht werden. Der Ausführungsort ist Deutschland.
Eckdaten
- Vergabestelle
- Institut für Oberflächen- und Schichttechnik GmbH
- Leistungsort
- DEU
- Angebotsfrist
- 2026-08-17
- Veröffentlicht
- 2026-07-17
- CPV-Codes
- 38000000
Ausschreibungen nach Region & Branche: Mecklenburg-Vorpommern · Rostock · Schwerin · Bau in MV · Handwerk in MV