Deutschland – Diverse Maschinen und Geräte für besondere Zwecke – Prior Information Notice – RF On-Wafer Probe Station
Die Ferdinand-Braun-Institut gGmbH Leibniz-Institut für Höchstfrequenztechnik plant die Beschaffung eines automatisierten RF-On-Wafer-Probing-Systems für Halbleitercharakterisierung. — Auftraggeber: Ferdinand-Braun-Institut gGmbH Leibniz-Institut für Höchstfrequenztechnik
Das Ferdinand-Braun-Institut gGmbH Leibniz-Institut für Höchstfrequenztechnik beabsichtigt die Anschaffung eines automatisierten RF-On-Wafer-Probing-Systems. Das System soll für die elektrische Charakterisierung von Halbleiterbauelementen, Schaltkreisen und Demonstratoren auf Wafer-Ebene genutzt werden. Es ermöglicht Hochfrequenz- und mmWave-Messungen unter kontrollierten Bedingungen und unterstützt Wafer bis 200 mm Durchmesser. Die Installation erfolgt in einem Reinraum in Berlin-Adlershof.
Eckdaten
- Vergabestelle
- Ferdinand-Braun-Institut gGmbH Leibniz-Institut für Höchstfrequenztechnik
- Leistungsort
- 12489 Berlin, DEU
- Veröffentlicht
- 2026-06-12
- CPV-Codes
- 42990000
Ausschreibungen nach Region & Branche: Mecklenburg-Vorpommern · Rostock · Schwerin · Bau in MV · Handwerk in MV