Secondary ion mass spectrometer (SIMS) (PR1195891-2050-W)
Die Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12, beschafft ein hochsensitives Sekundärionen-Massenspektrometer (SIMS) für die Halbleiterforschung am Fraunhofer IAF in Freiburg bis zum 23.09.2026. — Auftraggeber: Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12 · Frist: 2026-09-23
Die Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12, schreibt ein hochauflösendes Sekundärionen-Massenspektrometer (SIMS) für die chemische Tiefenprofilanalyse von Halbleitermaterialien aus. Das Gerät soll am Fraunhofer-Institut für Angewandte Festkörperphysik (IAF) in Freiburg eingesetzt werden und ermöglicht präzise Analysen von Dotierstoffen, Verunreinigungen sowie Schichtdicken in III-V- und Diamant-basierten Strukturen. Die Angebotsfrist endet am 23.09.2026. Bewertet werden Technik (65 %) und Preis (35 %). Ein Budget von 5,5 Mio. € netto ist vorgegeben.
Eckdaten
- Vergabestelle
- Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12
- Leistungsort
- 79108 Freiburg
- Angebotsfrist
- 2026-09-23
- Veröffentlicht
- 2026-08-21
- Vergabenummer
- PR1195891-2050-W
- Rechtsgrundlage / Verfahren
- All · Offenes Verfahren
- CPV-Codes
- 42990000-2
Ausschreibungen nach Region & Branche: Mecklenburg-Vorpommern · Rostock · Schwerin · Bau in MV · Handwerk in MV