Probe Card Inspection Tool (ENAS-15.1) (PR1149629-3340-P)
Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12 schreibt ein Probe Card Inspection Tool (ENAS-15.1) für hochauflösende 3D-Optikmetrologie in Chemnitz aus. — Auftraggeber: Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
Die Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12 vergibt eine öffentliche Ausschreibung für ein Probe Card Inspection Tool (ENAS-15.1). Das System dient der hochauflösenden optischen Inspektion von Prüfspitzen und Prüfköpfen in der Halbleiterfertigung. Die Leistung umfasst ein 3D-Optikmetrologie-System mit Elementanalyse, 3D-Modellierung und automatisierter Defekterkennung. Angebote müssen bis zum 09.06.2026, 10:00 Uhr eingereicht werden. Der Ausführungsort ist der ENAS Technologie-Campus 3 in 9126 Chemnitz.
Eckdaten
- Vergabestelle
- Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
- Leistungsort
- ENAS Technologie-Campus 3 9126 Chemnitz
- Angebotsfrist
- 2026-06-09
- Veröffentlicht
- 2026-05-05
- Rechtsgrundlage / Verfahren
- All · Öffentliche Ausschreibung
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