Dual Beam Focused Ion Beam System (FIB) und Transmissionselektronenmikroskop (TEM)
Das Institut für Oberflächen- und Schichttechnik GmbH beschafft ein Dual Beam Focused Ion Beam System (FIB) und ein Transmissionselektronenmikroskop (TEM) für Materialanalysen auf atomarer Ebene. — Auftraggeber: Institut für Oberflächen- und Schichttechnik GmbH · Frist: 2026-08-17
Das Institut für Oberflächen- und Schichttechnik GmbH schreibt die Lieferung, Installation und Inbetriebnahme eines Dual Beam Focused Ion Beam Systems (FIB) sowie eines aberrationskorrigierten 200 kV Transmissionselektronenmikroskops (TEM) mit analytischen Detektorsystemen aus. Die Systeme dienen der hochauflösenden strukturellen, chemischen und elektronischen Charakterisierung von Materialien. Angebote müssen bis zum 17. August 2026 eingereicht werden.
Eckdaten
- Vergabestelle
- Institut für Oberflächen- und Schichttechnik GmbH
- Angebotsfrist
- 2026-08-17
- Rechtsgrundlage / Verfahren
- VgV · Offenes Verfahren
- CPV-Codes
- 38000000-5
- Vergabeplattform
- dtvp
Ausschreibungen nach Region & Branche: Mecklenburg-Vorpommern · Rostock · Schwerin · Bau in MV · Handwerk in MV