Semi-automatic prober for characterization of 200 mm wafers
Die IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik beschafft einen semi-automatischen Wafer-Prober für die Charakterisierung von 200 mm Wafern. — Auftraggeber: IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik · Frist: 2026-10-13
Die IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik schreibt die Lieferung, Installation und Inbetriebnahme eines semi-automatischen Wafer-Probers für die elektrische und temperaturabhängige Charakterisierung von 200 mm Wafern aus. Das System soll DC- und Impulsmessungen sowie Niederfrequenz-Impedanzmessungen bis 10 MHz unterstützen und in das bestehende Keithley 4200A-SCS-System integriert werden. Die Abgabefrist endet am 13. Oktober 2026. Der Ausführungsort ist Frankfurt (Oder).
Eckdaten
- Vergabestelle
- IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik
- Leistungsort
- Frankfurt (Oder)
- Angebotsfrist
- 2026-10-13
- Veröffentlicht
- 2026-09-13
- Vergabenummer
- IHP-2026-045
- Rechtsgrundlage / Verfahren
- 32014L0024 · open
- CPV-Codes
- 38540000
- Vergabeplattform
- vergabemarktplatz.brandenburg.de
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